功率器件TO247-4PIN下压式老化测试座—TO老炼夹具

深圳德诺嘉电子生产的功率元器件TO247-4PIN下压式老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于功率元器件模拟电路测

  • 引脚数: 4pin
  • 间距: 2.54
深圳德诺嘉电子生产的功率元器件TO247-4PIN下压式老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于功率元器件模拟电路测试、烧录、老化,该款为老化测试使用
封装类型:TO247系列
适用引脚间距:2.54mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:小于100mA
芯片测试频率:小于10Mhz
芯片测试温度:常温
芯片测试座结构:下压式,
芯片测试座材料:PEI
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司