深圳德诺嘉电子生产的功率元器件TO247-4PIN下压式老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于功率元器件模拟电路测试、烧录、老化，该款为老化测试使用 封装类型：TO247系列 适用引脚间距：2.54mm 芯片测试座寿命：10万次 芯片测试电流：小于100mA 芯片测试频率：小于10Mhz 芯片测试温度：常温 芯片测试座结构：下压式， 芯片测试座材料：PEI 非标定制厂家：深圳德诺嘉电子有限公司
