您现在所在位置:搜索 LCC 的结果

新能源功率元器件系列

IC老化板方案

BGA封装系列

QFN/DFN封装系列

QFP/OTQ封装系列

SOP/OTS封装系列

TO封装系列

SOT封装系列

LCC封装系列

LGA封装系列

EMCP/EMMC/UFS系列

WLCSP/CSP封装系列

电容电阻系列

晶振系列

DDR系列测试夹具

IC测试治具

模块测试座

FPC/BTB连接器微针模组

MEMS探针卡

SMA/SMB/SMC/SMD封装

其他IC测试座

高速数据通信光模块测试:光通信模块LCC48pin一拖九工位模块测试座socket

高速数据通信光模块测试:光通信模块LCC48pin一拖九工位模块测试座socket

高速数据通信光模块测试:德诺嘉电子光通信模块LCC48pin一拖九工位模块测试座socket
2026-01-19597
定制PLCC68-1.27(24*24)合金旋钮翻盖探针测试座 IC老化座 socket

定制PLCC68-1.27(24*24)合金旋钮翻盖探针测试座 IC老化座 socket

深圳德诺嘉电子生产的 定制PLCC68-1.27(24*24)合金旋钮翻盖探针测试座 IC老化座 socket 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于PLCC封装的芯片模拟电路测···
2025-05-26396
定制LCC24pin-1.27mm(10*10)合金翻盖探针测试座 车规芯片老化座

定制LCC24pin-1.27mm(10*10)合金翻盖探针测试座 车规芯片老化座

深圳德诺嘉电子生产的 定制LCC24pin-1.27mm(10*10)合金翻盖探针测试座 车规芯片老化座 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于LCC封装的芯片模拟电路测试···
2025-04-10532
定制传感器芯片CLCC8pin-1.27(5*5)合金翻盖老化座 三温测试座

定制传感器芯片CLCC8pin-1.27(5*5)合金翻盖老化座 三温测试座

深圳德诺嘉电子生产的 定制传感器芯片CLCC8pin-1.27(5*5)合金翻盖老化座 三温测试座 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于CLCC封装的芯片模拟电路测试、···
2025-04-09594
定制传感器芯片CLCC8pin-1.27(4*4)一拖十六合金翻盖老化测试座

定制传感器芯片CLCC8pin-1.27(4*4)一拖十六合金翻盖老化测试座

深圳德诺嘉电子生产的 定制传感器芯片CLCC8pin-1.27(4*4)一拖十六合金翻盖老化测试座 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于CLCC封装的芯片模拟电路测试···
2025-04-09544
共37条 当前4/8页首页前一页···23456···后一页尾页
13715149812