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德诺嘉电子内存颗粒测试治具:DDR芯片测试这道关,卡住的不只是产能
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2026-10-14
8
SRAM缓存、DRAM内存、NAND Flash外存颗粒测试：存储结构差异、性能要求、封装与测试座夹具
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2026-10-08
69
并行计算与实时信号处理场景下德诺嘉电子FPGA/SoC芯片BGA900pin测试座解决方案
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2026-09-23
107
边缘计算芯片测试“边缘化”：高低温环境、电气连接、机械与振动测试与芯片测试座的接触稳定性。
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2026-09-21
92
无源晶振（贴片晶振）：从微型封装-测试条件-晶振测试座解决方案
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2026-09-16
113
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