网站首页
产品中心
新能源功率元器件系列
IC老化板方案
BGA封装系列
QFN/DFN封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
SOT封装系列
LCC封装系列
LGA封装系列
EMCP/EMMC/UFS系列
WLCSP/CSP封装系列
电容电阻系列
晶振系列
DDR系列测试夹具
IC测试治具
模块测试座
FPC/BTB连接器微针模组
MEMS探针卡
SMA/SMB/SMC/SMD封装
其他IC测试座
产品专题
新闻中心
公司资讯
行业动态
常见问题
合作案例
IC测试座结构案例
IC老化板案例
联系我们
关于我们
企业文化
企业风采
公司资质
企业邮箱:dong@dnjsocket.com
您现在所在位置:
首页
>>
新闻中心
公司资讯
行业动态
常见问题
德诺嘉电子低功耗传感器LGA12pin芯片老练夹具:支持-45℃~155℃宽温老化测试
德诺嘉电子低功耗传感器LGA12pin芯片老练夹具:支持-45℃~155℃宽温老化测试
2026-06-24
136
LGA470pin高频射频芯片性能测试:DC-20GHz射频指标与德诺嘉射频芯片测试座协同应用
LGA470pin高频射频芯片性能测试和德诺嘉射频芯片测试座协同应用
2026-06-22
160
FPC连接器测试微针模组:应用场景与德诺嘉电子FPC微针模组测试座
FPC连接器测试微针模组详解:应用场景与德诺嘉电子FPC微针模组测试座
2026-06-17
153
德诺嘉电子NAND/eMMC/UFS/eMCP存储芯片速率差异及芯片量产测试座/老化座/烧录座方案
德诺嘉电子NAND/eMMC/UFS/eMCP存储芯片速率差异及芯片量产测试座/老化座/烧录座方案
2026-06-15
196
芯片高低温测试:温控模块作用与德诺嘉电子芯片温控测试座应用案例
芯片高低温测试标准解析:温控模块作用与德诺嘉电子芯片温控测试座应用案例
2026-06-10
151
共115条 当前4/23页
首页
前一页
···
2
3
4
5
6
···
后一页
尾页
友情链接:
鸿怡电子
粤ICP备2024195031号-1
XML地图
13715149812
微信号:13715149812
微信二维码