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升温到 150℃后接触还稳吗?芯片老化测试座的热膨胀解决方案
升温到 150℃后接触还稳吗?德诺嘉电子芯片老化测试座的热膨胀解决方案
2026-11-04
6
电源芯片测试的两个极端:PMIC、DC-DC、LDO 的封装形态、测试项与德诺嘉电子电源芯片测试座逻辑
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2026-11-02
17
QFP测试座国产替代:OTQ型号怎么对、引脚分布差在哪、PCB定位为什么换不了?
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2026-10-28
52
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2026-10-26
66
贴片电容(MLCC)测试:失真机制和校准条件以及电容测试座的关联应用
贴片电容(MLCC)测试:失真机制和校准条件以及德诺嘉电子电容测试座的关联应用
2026-10-22
68
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