LGA12pin-0.6mm-3.6×2.2mm合金翻盖探针芯片测试座socket（定制品）

德诺嘉电子生产定制的LGA12pin-0.6mm-3.6×2.2mm合金翻盖探针芯片测试座socket厂家

产品介绍： 

产品名称:LGA12pin-0.6mm-3.6×2.2mm合金翻盖探针芯片测试座

使用用途：对LGA12pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试 

性能参数：温度-55到+85度，无其他测试要求。

产品特点： 

测试座（夹具）特点：

①测试座设计成旋钮翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。

②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。

③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试 更稳定，频率更高。

④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

LGA12pin芯片测试夹具规格参数：

生产品牌厂家：德诺嘉电子

芯片封装形式：LGA

芯片引脚：12pin

芯片引脚间距：0.6mm

适配芯片尺寸：3.6*2.2mm

接触介质：探针

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金、PEEK

工程师技术支持电话微信同号：13267043095