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LGA288pin-1.3mm-30x40mm合金旋钮探针芯片测试座socket(定制品)

发布日期:2025-01-17 15:20:51浏览次数:246
  • LGA测试座
  • LGA老化座
  • LGA夹具
  • LGA芯片测试座

德诺嘉电子生产定制的LGA288pin-1.3mm-30x40mm合金旋钮探针芯片测试座socket厂家

产品介绍: 

产品名称:LGA288pin-1.3mm-30x40mm合金旋钮探针芯片测试座 

使用用途:对LGA288pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试 

性能参数:频率小于3Ghz, 整个器件过流3A,常温测试

产品特点: 

测试座(夹具)特点:

①测试座设计成旋钮翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。

②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。

③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,频率更高。

④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。

BGA288pin芯片测试夹具规格参数:

生产品牌厂家:德诺嘉电子

芯片封装形式:BGA

芯片引脚:288pin

芯片引脚间距:1.3mm

适配芯片尺寸:30*40mm

接触介质:探针

测试座结构:旋钮翻盖式

测试座材料:合金、PEEK

工程师技术支持电话微信同号:13267043095 


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