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常见问题
振动与冲击下的芯片可靠性验证:芯片老化座筑牢芯片测试防线
振动与冲击下的芯片可靠性验证:德诺嘉电子芯片老化座筑牢芯片测试防线
2025-12-08
117
DDR内存芯片场景测试决定性能:DDR5内存芯片的分级设计与测试核心要点
DDR5作为第五代双倍数据率内存技术,不同应用场景的环境差异,催生了“极端适配”的工业级DDR5与“体验优先”的消费级DDR5两大分支.
2025-12-03
135
芯片测试如何精准匹配核心需求:芯片测试座选配的四大关键因素
芯片测试如何精准匹配核心需求:德诺嘉电子芯片测试座选配的四大关键因素
2025-12-01
135
芯片测试速率与频率的换算密码:芯片测试中Gbps与GHz的核心关联
芯片测试速率与频率的换算密码:芯片测试中Gbps与GHz的核心关联-德诺嘉工厂
2025-11-26
122
芯片测试有球/无球定方案:芯片有球/无锡球测试的特点、测试座适配应用
芯片测试有球/无球定方案:芯片有球/无锡球测试的特点、德诺嘉电子芯片测试座适配应用
2025-11-24
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