网站首页
产品中心
新能源功率元器件系列
IC老化板方案
BGA封装系列
QFN/DFN封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
SOT封装系列
LCC封装系列
LGA封装系列
EMCP/EMMC/UFS系列
WLCSP/CSP封装系列
电容电阻系列
晶振系列
DDR系列测试夹具
IC测试治具
模块测试座
FPC/BTB连接器微针模组
MEMS探针卡
SMA/SMB/SMC/SMD封装
其他IC测试座
产品专题
新闻中心
公司资讯
行业动态
常见问题
合作案例
IC测试座结构案例
IC老化板案例
联系我们
关于我们
企业文化
企业风采
公司资质
企业邮箱:dong@dnjsocket.com
您现在所在位置:
首页
>>
新闻中心
>>
公司资讯
公司资讯
行业动态
常见问题
德诺嘉金手指老化插槽(金手指805高温总线插槽-野口座)技术解析与应用
德诺嘉金手指老化插槽(金手指805高温总线插槽-野口座)技术解析与应用
2025-08-18
53
什么是UFS芯片?通用闪存存储芯片的特点、原理、测试以及UFS测试座的应用
什么是UFS芯片?通用闪存存储芯片的特点、原理、测试以及UFS测试座的应用
2025-08-13
70
高端算力芯片:大阵列高 pin 脚数芯片应用与测试,芯片测试座为什么是关键载体?
高端算力芯片:大阵列高 pin 脚数芯片应用与测试,芯片测试座为什么是关键载体?
2025-08-11
73
2分钟带您了解芯片测试目的、应用与德诺嘉芯片测试座的关键作用
2分钟带您了解芯片测试目的、应用与德诺嘉芯片测试座的关键作用
2025-07-30
162
芯片测试的必要性:芯片老化测试、芯片测试、芯片编程烧录
德诺嘉电子工程师:芯片测试的必要性:芯片老化测试、芯片测试、芯片编程烧录
2025-02-13
732
共28条 当前2/6页
首页
前一页
1
2
3
4
5
···
后一页
尾页
友情链接:
粤ICP备2024195031号-1
XML地图
13715149812
微信号:13715149812
微信二维码