定制WLCSP49-0.4合金翻盖测试座 QFN测试治具 BGA49烧录座 sockte

深圳德诺嘉电子生产的WLCSP49-0 4间距翻盖测试座IC测试治具QFN BGA49烧录座定制sockte 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

  • 引脚数: 49pin
  • 间距: 0.4mm
深圳德诺嘉电子生产的 定制WLCSP49-0.4合金翻盖测试座 QFN测试治具 BGA49烧录座 sockte 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于WLCSP封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:1.27mm
适用芯片尺寸:16*16mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:1000Mhz
芯片测试温度:-55~165℃
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:铝合金+PEEK
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812