定制PLCC20-0.8(6.2*6.2)合金翻盖探针老化测试座 芯片老炼烧录座

深圳德诺嘉电子生产的 定制PLCC20-0 8(6 2*6 2)合金翻盖探针老化测试座 芯片老炼烧录座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介

  • 引脚数: 20pin
  • 间距: 0.8mm
深圳德诺嘉电子生产的  定制PLCC20-0.8(6.2*6.2)合金翻盖探针老化测试座 芯片老炼烧录座 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于LCC封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:0.8mm
适用芯片尺寸:6.2*6.2mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:铝合金
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812